National Instruments的Measurement-Ready DAQ数据采集卡
　　由于NI 的Measurement-Ready 数据采集（DAQ）设备具有高性能元部件,加上其设计上的正确屏蔽、接地因素的周密考虑使得设备的噪声最小化。图2展示的是一般的DAQ设备与Measurement-Ready DAQ设备在读取7.5VDC高稳定信号时的差异。

　　噪声层越低越好,但这只适用在由于噪声导致的误差在理想的数据上下等同的情况之下。当我们搜集到一些数据并想算出其平均值时,这些数据却普遍偏高,这时,我们得出的结果会怎样？自然是数据偏高。Measurement-Ready DAQ设备采用一种叫做“抖动”的硬件技术,解决了此类问题。“抖动”使得对信号产生影响的噪声偏大和偏小的可能性接近。从统计数据来看,此技术增强了该检测设备的精确性。抖动技术的使用不需使用者做任何工作,也不需要任何专业知识。

　　Measurement-Ready DAQ设备采用优化的组件,这使得模数转换器（ADC）中最常出现的误差最少化了。ADC的最常见误差主要分两类：线性和非线性误差。线性误差 包括增益误差和偏移误差。这两种误差可相对方便地用一个简单的线性公式纠正。Measurement-Ready DAQ设备的自校准功能可以自动地校准线性误差。然而,非线性误差由于其难以在软件中纠正,将此类误差最小化则在设备的设计中显得犹为重要。非线性误差包括微分非线性(DNL) 和积分非线性 (INL)。如图3所示,微分非线性指的是DAQ设备在检测不同电压高低时的差异。积分非线性是微分非线性误差的总和。高质量的组件与优越的板卡设计相结合,最小化了非线性误差带来的影响。

校准
　　电子元件会随着时间和环境的变化发生漂移。随着时间的流逝和环境的改变,电子器件的性能会受到影响。例如,某DAQ系统在25℃时读数为2.00V,而一年之后,即使在同样温度下,度数就可能变为2.01V了。为补偿此类漂移,需要对DAQ设备进行定期的调整或校准。

　　当对NI Measurement-Ready DAQ设备进行校准时,我们将测试结果与已知的标准值作比较。若测量结果不在规格之内,则该设备就必须进行一定的调整。校准有如下步骤：

　　1. 检查DAQ设备的当前运作是否在规定的误差范围之内;
　　2. 若超出允许的范围,必须做一定的调整;
　　3. 调整之后,再次检查DAQ 设备的运作是否符合规定;
　　4. 发布校准证书,说明该设备经与可溯源标准比较,可在规定范围内操作。

　　NI Measurement-Ready DAQ设备具有高精度的板上电压源,使得间歇性的自校准成为可能。自校准过程只需要软件的一个命令即可,无须其他信号连接,也无须多余操作。